TY - GEN AU - Schune,Claire AU - Yonger,Marc AU - Bresson,Bruno AU - Fretigny,Christian AU - Guy,Laurent AU - Chaussée,Thomas AU - Lequeux,François AU - Montes,Hélène AU - Verneuil,Emilie TI - Combining Ellipsometry and AFM To Probe Subnanometric Precursor Film Dynamics of Polystyrene Melts SN - 1520-5827 PY - 2019/// PB - Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids N1 - Publication Type: Journal Article UR - https://doi.org/10.1021/acs.langmuir.9b00768 ER -