TY  - GEN
AU  - Shim,Jaewoo
AU  - Bae,Sang-Hoon
AU  - Kong,Wei
AU  - Lee,Doyoon
AU  - Qiao,Kuan
AU  - Nezich,Daniel
AU  - Park,Yong Ju
AU  - Zhao,Ruike
AU  - Sundaram,Suresh
AU  - Li,Xin
AU  - Yeon,Hanwool
AU  - Choi,Chanyeol
AU  - Kum,Hyun
AU  - Yue,Ruoyu
AU  - Zhou,Guanyu
AU  - Ou,Yunbo
AU  - Lee,Kyusang
AU  - Moodera,Jagadeesh
AU  - Zhao,Xuanhe
AU  - Ahn,Jong-Hyun
AU  - Hinkle,Christopher
AU  - Ougazzaden,Abdallah
AU  - Kim,Jeehwan
TI  - Controlled crack propagation for atomic precision handling of wafer-scale two-dimensional materials
SN  - 1095-9203
PY  - 0000///112018///
PB  - Science (New York, N.Y.)
N1  - Publication Type: Journal Article; Research Support, Non-U.S. Gov't
UR  - https://doi.org/10.1126/science.aat8126
ER  -