TY  - GEN
AU  - Lutz-Bueno,V
AU  - Arboleda,C
AU  - Leu,L
AU  - Blunt,M J
AU  - Busch,A
AU  - Georgiadis,A
AU  - Bertier,P
AU  - Schmatz,J
AU  - Varga,Z
AU  - Villanueva-Perez,P
AU  - Wang,Z
AU  - Lebugle,M
AU  - David,C
AU  - Stampanoni,M
AU  - Diaz,A
AU  - Guizar-Sicairos,M
AU  - Menzel,A
TI  - Model-free classification of X-ray scattering signals applied to image segmentation
SN  - 0021-8898
PY  - 2018///
PB  - Journal of applied crystallography
N1  - Publication Type: Journal Article
UR  - https://doi.org/10.1107/S1600576718011032
ER  -