TY  - GEN
AU  - Liu,Z Q
AU  - Liu,J H
AU  - Biegalski,M D
AU  - Hu,J-M
AU  - Shang,S L
AU  - Ji,Y
AU  - Wang,J M
AU  - Hsu,S L
AU  - Wong,A T
AU  - Cordill,M J
AU  - Gludovatz,B
AU  - Marker,C
AU  - Yan,H
AU  - Feng,Z X
AU  - You,L
AU  - Lin,M W
AU  - Ward,T Z
AU  - Liu,Z K
AU  - Jiang,C B
AU  - Chen,L Q
AU  - Ritchie,R O
AU  - Christen,H M
AU  - Ramesh,R
TI  - Electrically reversible cracks in an intermetallic film controlled by an electric field
SN  - 2041-1723
PY  - 2018///0110
N1  - Publication Type: Journal Article; Research Support, U.S. Gov't, Non-P.H.S.; Research Support, Non-U.S. Gov't
UR  - https://doi.org/10.1038/s41467-017-02454-8
ER  -