TY  - GEN
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AU  - Hu,T
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AU  - Szilagyi,E
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AU  - Miller,T A
AU  - Uher,C
AU  - Damodaran,A
AU  - Martin,L
AU  - Mehta,A
AU  - Corbett,J
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AU  - Reis,D A
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TI  - Measurement of transient atomic displacements in thin films with picosecond and femtometer resolution
SN  - 2329-7778
PY  - 2016///0122
N1  - Publication Type: Journal Article
UR  - https://doi.org/10.1063/1.4875347
ER  -